| 产品特性：2 | 是否进口：否 | 加工定制：是 |
| 品牌：Siemens/西门子 | 型号：7ML1301-2EA21-1AB0 | 类型：导波雷达物位计 |
| 测量范围：2700 | 分辨率：600x700 | 供电电源：380 |
| 工作频率：46 | 尺寸：9x13 | 重量：5 |
| 封装：泡沫 | 量程比：200比1 | 工作环境：高温 |
品牌介绍
西门子是quan球zui具chuangxin能力的企业之一，致力于技术发展潮流，专注于通过我们的技术为客户及其他利益相关群体带来切实的利益，推动可持续发展。西门子立足，面向quan球，开放chuangxin。公司专注于数字化chuang新，将多点布局的chuangxin中心网络、研发体系以及本地业务需求相结合，开发满足本地客户需求的chuangxin产品和解决方案，为产业转型升级注入新的活力。
品牌优势
西门子研究院成立于2006年，目前已成为西门子研究院德国总部以外的研究机构。研究院的科学家们致力于电气化、自动化和数字化领域的前沿科技chuangxin，支持西门子各项业务的发展。同时，西门子研究院正在主导公司自主机器人的研发工作，重点围绕xin型机电一体化、人机协作及人工智能在机器人控制器中的应用等课题开展研发。
SIEMENS西门子7ML1301-2EA21-1AB0食品应用电容式物位计产品特点及优势
一款紧凑型双线反相频移电容开关，适用于狭窄空间、界面、固体、液体、泥浆和泡沫中的物位检测。Pointek CLS100 短插入长度为 100 毫米（4 英寸），并在各种应用和容器或管道中具有多功能性，使其成为传统电容式传感器的良好替代产品。其***的***传感技术提供、可重复的开关点性能。PPS（聚苯）[可选 PVDF（聚偏二氟）] 具有耐化学性，有效过程工作温度范围为 -30 至 +100℃（22 至 +212 ℉）（7ML5501）和 -10 至 +100℃（14 至 +212 ℉）（7ML5610）。全密封设计，可确保振动环境中应用的可靠性，例如 4g 搅拌罐。当与 SensGuard 保护罩一起使用时，CLS100 可在苛刻的初级加工过程中免受剪切、冲击和磨损影响。Pointek CLS100 有三种型号。集成电缆型号具有不锈钢过程连接件和选项（PPS 或 PVDF ）。全合成型号配备有热塑性聚酯外壳，附带 PPS 过程连接件和 PPS 。标准外壳型号配备有热塑性聚酯外壳，附带不锈钢过程连接件，并配有 PPS 或 PVDF 。主要应用：液体、泥浆、粉末、颗粒、食品和药品、化学品、危险区域。
优势，坚固的不锈钢设计，适合于各项工业应用，采用 78 GHz 高频，能够发射非常窄的波束，几乎不产生安装短管的噪音，并且倾斜表面固体也能够形成射束反射，选配的瞄准器可将波束指向目标区域，例如锥形料斗的放料口，透镜天线对表面挂料有很强的耐受性，包含空气吹扫连接，用于自清洁***粘稠的固体，本地显示界面（LDI）支持本地编程和诊断。
SIEMENS西门子7ML1301-2EA21-1AB0食品应用电容式物位计产品实拍图
SIEMENS西门子7ML1301-2EA21-1AB0食品应用电容式物位计产品参数
详情，范围40 mm 至 4 m(1.5 英寸至 13 英尺)过程温度-196 ...+450 ℃过程压力-1 ...160公斤。
网络知识
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
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